第四期掃描電子顯微鏡學(xué)校正在報(bào)名

發(fā)布時(shí)間2020-12-01文章來(lái)源 物質(zhì)科學(xué)與技術(shù)學(xué)院作者責(zé)任編輯

第四期掃描電子顯微鏡學(xué)校(SEM)將于12月16-18日在上??萍即髮W(xué)舉辦。盡管受到冠狀病毒影響,今年我們?nèi)匝乩m(xù)這一傳統(tǒng)并提供以下內(nèi)容

1. 在線(xiàn)課程:所有課程資料將通過(guò)網(wǎng)絡(luò)提供,您無(wú)需旅行即可獲得所有學(xué)習(xí)資料。

2. 在線(xiàn)展示:日本電子(JEOL)公司日本總部的應(yīng)用工程師將通過(guò)屏幕共享提供在線(xiàn)實(shí)時(shí)儀器和操作演示(您的所見(jiàn)和工程師完全一樣)。

3. 在線(xiàn)研討:我們會(huì)組織多個(gè)討論小組,以覆蓋SEM的不同應(yīng)用領(lǐng)域并回答用戶(hù)研究項(xiàng)目中所遇到的問(wèn)題。

4. 在線(xiàn)評(píng)估我們會(huì)對(duì)您的電鏡操作和電鏡圖片提出建設(shè)性意見(jiàn)。

我們期待在12月與您相見(jiàn)!

報(bào)名截止時(shí)間

2020年12月10日


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